HPC半導體技術

應用於面板級中介層之多晶片封裝電性補正技術

技術特色
晶片位移補償XY:50 μm;θ:0.3°
晶片整合數:4個
Panel Per Hour:16 @G2.5
RDL層數:4層
線寬/孔徑:3μm/6μm
基板翹曲:< 0.5mm @G2.5 (After Debonding)

技術內容

因應未來IC高速運算需求,開發無光罩高解析適應形圖案化補償技術,驗證於晶片優先(Chip First)IC封裝之重佈線層(Re-distribution Layer, RDL),達到水平位移(XY)50μm與角度位移(θ)0.3o的補償能力,並具備線路電性補償設計,可應用於面板級中介層。
Items 2024 2023
Electrical Compensation Design Resolution: 2μm NA
Digital Dynamic Connection XY:50μm; θ: 0.3° XY:50μm; θ: 0.3°
Low Temp. Build up Film with High Resolution Line/Via: 3μm/6μm; Curing: 180°C Line/Via: 5μm/7μm; Curing: 180°C
 

單位:電子與光電系統研究所
姓名:吳胤璟
電話:03-5913685
信箱:gary.wu@itri.org.tw